AFM
O AFM (microscópio de força atômica) consiste basicamente de uma pequena ponta que varre a superfície de interesse nas direções x, y e z, movendo-se uma sonda através de um dispositivo piezelétrico. Entre a ponta e os átomos da superfície da amostra existem interações que podem ser atrativas ou repulsivas. Em grandes distâncias, as interações são predominantemente atrativas, devido às forças de Van der Waals. Se aproximarmos a ponta com a superfície, as interações são repulsivas devido a repulsão entre os orbitais eletrônicos dos átomos da superfície da amostra e os da ponta do microscópio de força atômica. A força anula-se quando a distância entre os átomos é da ordem de alguns ångstroms (da ordem da distância característica de uma ligação química). (FONTE).
Características e aplicações:
- O AFM fornece uma imagem tridimensional da superfície da amostra.
- Promove investigações em materiais condutores e também isolantes.
- Se bem operado, a alta resolução é compatível com a resolução do microscópio de tunelamento e o de microscopia eletrônica de transmissão.
- Uma outra aplicação é a espectroscopia de força atômica, consiste na medição das forças de interação em função da distância entre a ponta e a superfície, o resultado desta medida é chamado de curva força-distância.
Foto do AFM do LAMPEF. Modelo: Nanonics Imaging/Olympus BX3M-PSLED.
Maiores informações: Profa. Dra. Marta Elisa Rosso Dotto <martaelisa.rd@ufsc.br>.
