Perfilômetro
O LAMPEF possui o perfilômetro de contato da marca Bruker , modelo DektakXT Stylus. Esse sistema permite medir variações de altura na superfície da amostra. A medida é realizada eletromecanicamente movendo uma ponta de diamante sobre a superfície da amostra de acordo com um comprimento de varredura, velocidade e força de estilete (programado pelo usuário). A caneta é ligada a um Transformador Diferencial Variável Linear (LDVT), que produz e processa sinais elétricos que correspondem a variações superficiais da amostra.
Nosso sistema só é configurado no MODO 2D:
- Translação XY manual: 101,6 x 101,6 mm (4 x 4 polegadas) de translação XY;
- Nivelamento manual;
- Espessura máxima da amostra: 50 mm;
- Comprimento máximo da varredura: 55 mm;
- Diâmetro da ponta da agulha: 2 mícrons;
Tutorial: como converter dados do perfilômetro, para o excel:
Manuais de operação: Manual curto Perfilômetro || Manual longo Perfilômetro || Manual básico
Maiores informações: Profa. Dra. Cristiani Campos Plá Cid e Profa. Dra. Deise Schafer, contatos: cristiani.campos@ufsc.br e deise.schafer@ufsc.br
Outros Lab´s e instituições com equipamentos semelhantes ou afins:
- Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano) – Campinas/SP;
-
Laboratório de Nanoscopia da UFV – Viçosa/MG
